隨著各國電磁兼容性規(guī)范的推廣和實施，人們越來越關注商品的電磁兼容性問題，主要電子設備制造商也越來越關注商品的電磁兼容性測試，特別是電磁輻射騷擾是否符合相關標準要求。在輻射騷擾試驗中，場所對試驗結果的影響非常明顯。同一儀表設備在不同的測試地點會得到不同的測量結果，所以每個暗室的數(shù)據(jù)測試都有差異。EN55022:2010是歐洲為解決應用領域的信息技術設備無線電騷擾電平而制定的統(tǒng)一試驗規(guī)范，規(guī)定了騷擾限值、測量方法、操作標準和結果。EN在2010年:2010輻射騷擾試驗中，桌面設備被放置在非金屬桌子上，如圖1所示。規(guī)范中只提到桌面的大小.5m×1.0m，但是對試驗臺的材料沒有明文規(guī)定。由于不同材料制成的試驗臺介電常數(shù)不同，導致輻射騷擾試驗結果不同。本文對輻射騷擾測量的影響進行了定量分析。

圖1.輻射騷擾試驗中臺式 EUT 布置

試驗臺對場地特征的影響

EN55022:2010要求在寬試驗場地進行輻射騷擾試驗。寬試驗場地應平整，無空架電纜線，周圍無反射器。這個地方足夠大，可以在要求的距離處置天線，并使天線、測試設備和反射物體之間有足夠的間距。然而，隨著社會的發(fā)展，很難找到一個符合規(guī)定的理想場所。因此，無線電暗室作為一個寬闊的試驗場的替代場所，得到了廣泛的應用。該規(guī)范要求歸一個地方衰減NSA）這是確認無線電波暗室能否獲得有效結果的關鍵指標。無線電波暗室是為模擬寬度測試場所而建造的。無線電波暗室與寬闊場所的差值應小于4dB，確認兩者的相似程度。

試驗表對試驗結果的影響，如圖2所示。

圖2

在10m在暗室沒有檢測臺的前提下，根據(jù)雙錐天線使用信號源(頻率30)~250MHz）多數(shù)天線(250頻率)~1000MHz）發(fā)送電磁波。一組場地衰減數(shù)據(jù)通過接收器、另一組雙錐天線和大多數(shù)天線測量。統(tǒng)一場所衰減的計算公式：

A_N = V_T - V_R - AF_T - AF_R - ΔAF_TOT

式中：V_T —— 發(fā)射天線輸入電壓，dBμV； V_R —— 接收天線輸出電壓，dBμV； AF_T —— 發(fā)射天線的天線系數(shù)，dB； AF_R ——接收天線的天線系數(shù)，dB；

ΔAF_TOT —— 互阻抗修正系數(shù)，dB（僅適用 于用偶極子天線測量、且測量距離為 3 m 時的情況， 除此之外，ΔAF_TOT = 0）

表1.雙錐天線和對數(shù)天線測得的場地衰減數(shù)據(jù)

表 1 中，Aideal 為標準的歸一化場地衰減值，偏差為 Aideal 減去 AN，且均小于 4 dB。

然后分別在采用泡沫桌和木桌情況下測得另兩組場地衰減數(shù)據(jù)，如圖 3 和圖 4 所示。

圖3.泡沫桌場地衰減數(shù)據(jù)測量之一

圖4.木桌場地衰減數(shù)據(jù)測量之一

圖5.場地衰減數(shù)據(jù)比較

結語

由于泡沫的介電常數(shù)接近氣體，比木材小，所以在暗室中使用泡沫桌時測得的地方衰減數(shù)據(jù)與沒有檢測桌的地方相似；暗室使用木桌時，測得的地方衰減數(shù)據(jù)與沒有檢測臺時的數(shù)據(jù)有很大區(qū)別。由于木桌的介電常數(shù)較大，圖5中使用木桌的暗室衰減AN稍大，在AFT，AFR，ΔAFTOT在不變的前提下，接收器測量的電平值較大VR將減小。

因此，當電波暗室采用木桌或其他介電常數(shù)材料制成的試驗桌等輔助設備時，會使場地衰減AN增加導致接收器測量的場強度降低，導致測試結果的差異。試驗臺等輔助設備是試驗場所有效性的組成部分。因此，建議在選擇暗室輔助設備時，選擇介電常數(shù)較小的材料，并進行場地衰減的測量，以確保每個暗室測量結果的一致性。